在硬盘规格中，有一项常见的指标“MTTF”，即“平均无故障时间”，或者说“失效前平均时间”。一般来说，这一时间能达到上百万小时，不过卡内基梅隆大学在旧金山的第五届USENIX Conference大会上指出，对大约10万块硬盘进行研究后的结论是：硬盘产品的实际失效几率是MTTF指标的15倍之多。

如果按照MTTF为100-150万小时计算，那么即使在最坏的情况下，硬盘每年的失效率不过0.88％，但卡内基梅隆大学的研究人员在研究了各种大型生产系统、互联网服务网站等地的硬盘后发现，实际数字一般都会超过1％，通常在2-4％左右，在某些极端情况下甚至高达13％以上，甚至24％。

研究还发现，更快、更贵的光纤通道硬盘并不一定就比普通SATA硬盘更可靠。另外，大概50％之多的返修硬盘实际上都没有任何问题，分析人士和硬盘厂商也有类似观点。

研究人员之一Garth Gibson指出，他们这份报告的目的不仅是敦促硬盘厂商改进产品设计，更希望他们能同时改善产品测试。他还表示，他们并非要区分各家硬盘厂商的质量高低，也不是追踪硬盘的实际故障率，而是给用户一个参考，让大家明白硬盘可能会在什么时候出现问题。

大会上的另一项报告则提出，对Google数据中心硬盘的研究发现，温度因素对硬盘可靠性的影响看起来微乎其微。

注：

Failure：失效
Fault：故障
MTBF：平均失效间隔时间，定义为失效或维护中所需要的平均时间。
MTTF：失效前平均时间，定义为随机变量、出错时间等的“期望值”。
MTTR：平均恢复前时间，定义为随机变量恢复时间得期望值。
MTBF = MTTF + MTTR (MTTR通常远小于MTTF，所以MTBF近似等于MTTF，通常由MTTF替代)

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